全反射X熒光光譜儀，TXRF與EDXRF

GNR，TX2000全反射X熒光光譜儀，TXRF與EDXRF的有機結合體

 GNR，TX2000全反射X熒光光譜儀，TXRF與EDXRF的有機結合體

分析原理

TX2000 原理是基于X 熒光能譜法，但與 X 射線能譜形成對比的是“傳統能譜采用原級 X 光束以 45°角轟擊樣品，而TXRF 采用毫弧度的臨界角。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級 X 光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以一定程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生，同時減小了載體的背景和噪聲"。

僅需將一小滴樣品（5-100uL 采用合適溶劑溶解的被測物質）放置在二氧化硅載體上，溶劑蒸發后形成一層厚度為幾納米的殘留物，此時可以一定程度上消除來自于樣品和樣品基體產生的散射。由于殘留物薄膜厚度極小，在還未產生基體影響時已經完成了檢測工作，結合高功率 / 高分辨儀器，通過內標監控即可輕松完成多元素同時定量分析的工作。

儀器特點

★ 將全反射和傳統的能量色散集成在同一臺儀器上

★ 配備創新光學編碼器的步進電機，保證精確角度測量

★ 采用雙靶 (Mo/W) X 射線管，軟件控制自動切換原始光束和軔致輻射

★ 高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器

★ 極小的樣品與檢測器間距，保證極低背景干擾和優異的靈敏度

★ 超出 50 余種元素的檢出限低于 10pg

★ 氦氣附件可以改善輕元素的檢出限

★ 能譜儀采用全自動設計，操作者可以通過計算機控制全反射條件獲得不同的能量源，控制單色器步進電機和射線管的開關

應用舉例

環境分析：    水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物

制藥分析：     生物體液和組織樣品中的有害元素

法醫學：     微小證據分析

化學純度分析： 酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑

油品分析：     原油、輕質油、燃料油

染料分析：     墨水、油漆、粉末半導體

材料分析：      揮發相分解

核材料工業： 放射性元素分析

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